Назад
Рудаков, Григорий Александрович
Институт нанотехнологий микроэлектроники Российской академии наук
Россия, Москва
Доклад
Горячев А.В.
*
,
Дудин А.А.
*
,
Кириленко Е.П.
*
,
Рудаков Г.А.
*
Анализ межслойных границ раздела тонких пленок Ti и его соединений методом оже-электронной спектроскопии
*
Институт нанотехнологий микроэлектроники Российской академии наук (Москва), Россия
К списку участников