Руденко, K. В.
Доклад
- Антонов В.А., Калугин А.П., Попов В.П.*, Мяконьких A.В., Руденко K.В., Скуратов В.А.**, Скуратов В.А.**, ОКоннелл Ж.***
Дефекты в кремнии-на-сапфире с прослойкой HfO2:Al2O3 после облучения быстрыми ионами Xe и Bi
*Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН (Новосибирск), Россия
**Объединенный институт ядерных исследований (Дубна), Россия
***Университет Нельсона Манделы (Саммерстренд), Южно-Африканская Республика