Кох, Константин Александрович
Институт геологии и минералогии им. В.С. Соболева СО РАН
http://www.igm.nsc.ru
Россия, 630090, Новосибирск, пр. ак. Коптюга, 3
Телефон: +7(383) 333-26-00,
Факс: +7(383) 333-27-92
Доклад
- Захожев К.Е.*, Рогило Д.И.*, Пономарев С.А.**, Гутаковский А.К.*, Курусь Н.Н., Щеглов Д.В., Милехин А.Г., Латышев А.В.*, Кох К.А.***
Рост SnSe2, инициированный кристаллизацией тонкого аморфного слоя на поверхностях Bi2Se3(0001) и Si(111)
*Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН (Новосибирск), Россия
**Учреждение Российской академии наук Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН (Новосибирcк), Россия
***Институт геологии и минералогии им. В.С. Соболева СО РАН (Новосибирск), Россия
К списку участников